خلاصه :
یکی از مهمترین کاربردهای روش پرتو یونی متمرکز (Focused Ion Beam-FIB) ، تهیه نمونههایی برای بررسی به وسیله‌ی میکروسکوپ الکترونی عبوری (Transmission Electron TEM- Microscope( است. نمونهها باید به طور یکنواخت نازک شده باشند تا قادر به عبور پرتو الکترونی باشند. FIB نه تنها تهیه‌ی نمونههایی با ضخامت یکنواخت و با موقعیت ویژه، بلکه ساخت لایه‌های قابل استفاده در نمونه‌های TEM، از نمونه‌های کامپوزیتی دارای مواد آلی و معدنی با خواص بسیار متفاوت را امکان‌پذیر مینماید. این مقاله خلاصهای از روش‌های مختلف برای تهیه‌ی نمونه‌ی نهایی با استفاده از FIB را ارائه می‌کند.
متن این مقاله به صورت pdf قابل دریافت می باشد( 
)
تاریخ : سه شنبه 91/5/3 | 9:5 صبح | نویسنده : مهندس سجاد شفیعی | نظرات ()
