خلاصه :
فناوری نانو ابزارهای جدیدی برای توسعه مواد پیشرفته، به منظور شناسایی و تشخیص بیماریها در اختیار علوم قرار داده است. در این بین نانوذرات سوپرپارامغناطیس اکسیدآهن (SPIONs) به دلیل ویژگیهای سوپرپارامغناطیسی مطلوب و همچنین ویژگیهای سطحی و زیست سازگاری، به طور گستردهای به عنوان عوامل جدید کنتراست در تصویربرداری تشدید مغناطیسی (MRI) مورد مطالعه قرارگرفتهاند. در این مطالعه مروری اصول تصویربرداری MR، منشأ ویژگیهای مغناطیسی منحصربهفرد SPION ها، پیشرفتهای اخیر در روشهای اکتساب MRI برایشناسایی SPION ها، روشهای سنتز و پس از سنتز که خصوصیات تصویربرداری SPIONها را بهبود میدهد و دورنمای پتانسیل انتقال SPIONها بحث میشود.

متن این مقاله به صورت pdf قابل دریافت می باشد( )

خلاصه :
ماهنامه فناوری نانو با هدف معرفی توانمندی تجهیزاتسازان داخلی در زمینه فناوری نانو، معرفی شرکتهای سازنده تجهیزات در زمینه این فناوری را در دستور کارخود قرار داده است. بر این اساس از شماره 163 ماهنامه فناوری نانو، شرکتهای تجهیزاتساز داخلی فعال در زمینه فناوری نانو و همچنین برخی از محصولات آنها در گزارشهای کوتاهی، که به بررسی مختصری از فعالیتهای شرکت بهصورت کلی و سپس به معرفی تجهیزات مورد تایید ساختهشده توسط آن شرکت اختصاص دارد، معرفی شدهاند. در این شماره از ماهنامه فناوری نانو، به معرفی تجهیزات ساختهشده توسط شرکت فناوری نانوساختار آسیا که در زمینه ساخت نانوالیاف با استفاده از دستگاه الکتروریسی فعال است، پرداخته شده است.

متن این مقاله به صورت pdf قابل دریافت می باشد( )

خلاصه :
ماهنامه فناوری نانو با هدف معرفی توانمندی تجهیزات‏سازان داخلی در زمینه فناوری نانو، معرفی شرکت‏های سازنده تجهیزات در زمینه این فناوری را در دستور کارخود قرار داده است. بر این اساس از شماره 163 ماهنامه فناوری نانو، شرکت‏های تجهیزات‏ساز داخلی فعال در زمینه فناوری نانو و همچنین برخی از محصولات آنها در گزارش‏های کوتاهی، که به بررسی مختصری از فعالیت‏های شرکت به‏صورت کلی و سپس به معرفی تجهیزات ساخته‏شده توسط آن شرکت اختصاص دارد، معرفی شده‏اند. در این شماره از ماهنامه فناوری نانو، به معرفی تجهیزات ساخته‏شده توسط شرکت یارنیکان صالح که در زمینه ساخت انواع دستگاه‏های لایه‏نشانی فعال است، پرداخته شده است.

متن این مقاله به صورت pdf قابل دریافت می باشد()

خلاصه :
روشهای مبتنی بر اشعه x برای مطالعه ساختار مواد بکار می‌روند و اولین نوع از این روشها پراش اشعه x یا XRD بود که نحوه آرایش اتمها را در بلور نشان می‌داد (کریستالوگرافی). ولی برخی از مواد مخصوصا مواد زیستی بصورت بلوری نیستند و اندازه‌گیری و مطالعه آنها به وسیله روش مذکور دشوار می باشد. لذا برای آنالیز این مواد و همچنین مطالعه لایه‌های بسیار نازک (با ضخامت در حد چند نانومتر) روشی به نام پراش اشعه x با زاویه کوچک (SAXS) ابداع شد. در این ارائه ضمن معرفی این روش به قابلیت‌های آن در اندازه‌گیری خواص مختلف نانومواد اشاره شده است.

فایل ارائه ستاد

تاریخ	دریافت فایل	حجم فایل (MB)
مهر 1390		6.74

خلاصه :
کیفیت مقوله‌ای است که همواره مورد نیاز مادی و معنوی انسان بوده است و نبود آن می‌تواند دشواری‌هایی برای وی بوجود آورد. بدیهی است کنترل کیفیت و تضمین آن بر اندازه‌گیری استوار است. فراگیری روش اندازه‌گیری کمیت‌های گوناگون و در نگاهی وسیع‌تر کالیبراسیون دستگاه‌ها، راهی برای نیل به این خواسته است. هر دستگاه ویژگی‌های فنی و ویژگی‌های اندازه شناختی خود را دارد. با توجه به اینکه دستیابی به کیفیت برتر از طریق انجام آزمون‌ها و اندازه‌گیری‌های مطمئن ارزیابی می‌گردد. آیا نو بودن تجهیزات یا استفاده از تکنولوژی جدید دستگاهی، می‌تواند منجر به اندازه‌گیری مطمئن شود. پاسخ اینست که تنها کالیبراسیون صحیح و دوره‌ای به نتایج خروجی دستگاه‌ها کیفیت می‌بخشد. با انجام کالیبراسیون به دنبال یافتن ویژگی‌های اندازه شناختی دستگاه هستیم تا در صورت نیاز اصلاحات لازم را انجام دهیم. اغلب استانداردهای مدیریت کیفیت در بخش الزامات فنی، از کالیبراسیون تجهیزات نام برده و آنرا الزام نموده‌اند.

فایل ارائه ستاد

تاریخ	دریافت فایل	حجم فایل (KB)
مهر 1390		663

خلاصه :
کامپوزیت‌ و نانوکامپوزیت‌های زمینة آلومینیومی که با ذرات مختلفی مانند سرامیک‎ها تقویت شده‌اند به‌دلیل سبکی، مقاومت سایشی بالا، مدول و استحکام بالا، و خواص مناسب برای کاربردهای دمای بالا، توجه پژوهشگران را به خود جلب کرده‌است. ایجاد ترکیبات بین فلزی و ‌اندازة ذرات تقویت‌کننده از عوامل ریزساختاری هستند که خواص مکانیکی کامپوزیت‌ها را تحت تأثیر قرار می‌‌دهند. در این پژوهش با معرفی روش‌های مختلف تولید این مواد و بررسی خواص نانوکامپوزیت‌های تهیه‌شده به روش آلیاژسازی مکانیکی و فازهای مـورد نظر در سیـستم Al-Ti-O، قابلیت این گروه از مواد به‌عنوان جایگزینی مناسب برای سیستم‌های متداول ارزیابی می‌شود.

متن این مقاله به صورت pdf قابل دریافت می باشد()

خلاصه :
اطلاع از جزئیات ساختارها در مقیاس اتمی، در درک و پیش‌بینی خواص مواد لازم است. این اطلاعات درباره‌ی بلورهای ساده، با استفاده از روش قدیمی تفرق اشعه‌ی ایکس (روش براگ1) حاصل می‌شود. استفاده از این روش برای نانومواد مشکل است؛ زیرا حتی اگر اجزای پراش مشخصی هم داشته باشند، طیف تفرق2 آنها، پیک‌های براگ بسیار کمی را نشان می‌دهد؛ در حالی که روش جدید، بر پای? آنالیز تفرق اشعه‌ی ایکس با انرژی بالا3 و داده‌های تابع توزیع دوتایی اتمی4، قابل استفاده است. این مقاله به شرح موارد ضروری این روش و قابلیت زیاد آن می‌پردازد و هدف از آن تشویق گروه‌های علمی فعال در زمین? نانو است، تا از این طریق نسبت به روش تفرق قدیمی اشعه‌ی ایکس فراتر روند.

متن این مقاله به صورت pdf قابل دریافت می باشد()

خلاصه :
اگرچه محققان مراکز دانشگاهی و پژوهشی همواره از کمبود تجهیزات آزمایشگاهی گله‌مند هستند ولی مشکلات نگهداری و استفاده بهینه از تجهیزات موجود در این مراکز به مراتب بیشتر است. این مشکلات ناشی از علل مختلفی از قبیل موارد زیر است: عدم توجه کافی به نیازهای کشور در خرید تجهیزات آزمایشگاهی که باعث می‌شود تجهیزات زیادی پس از خرید سال‌ها در بسته‌بندی بمانند به طوری که حتی گارانتی و خدمات پس از فروش آنها به پایان برسد.

متن این مقاله به صورت pdf قابل دریافت می باشد()

خلاصه :
ماهنامه فناوری نانو با هدف معرفی توانمندی تجهیزات‏سازان داخلی در زمینه فناوری نانو، معرفی شرکت‏های سازنده تجهیزات در زمینه این فناوری را در دستور کار خود قرار داده است. بر این اساس از شماره 163 ماهنامه فناوری نانو، شرکت‏های تجهیزات‏ساز داخلی فعال در زمینه فناوری نانو و همچنین برخی از محصولات آنها در گزارش‏های کوتاهی، که به بررسی مختصری از فعالیت‏های شرکت بصورت کلی و سپس به معرفی تجهیزات ساخته‏شده توسط آن شرکت اختصاص دارد، معرفی شدند. در این شماره از ماهنامه فناوری نانو، به معرفی دستگاه‏های لایه‏نشانی ساخته‏شده توسط مرکز تخصصی فناوری خلأ بالا جهاد دانشگاهی صنعتی شریف، پرداخته شده است.

خلاصه :
در فناوری نانو موقعیت هر اتم، منجر به بروز تفاوت‌های زیادی می‌شود؛ فرقی هم ندارد که یک ماده به‌‌عنوان نیمه‌رسانا عمل کند یا عایق، آغاز یک فرایند شیمیایی را موجب شود یا اینکه از انجام آن جلوگیری کند. توانایی تعریف دقیق موقعیت هر اتم در یک نانوذره، امکان کنترل ویژگی‌ها و رفتار یک نانوماده را ایجاد می‌کند. اما روش‌های تصویربرداری اتمی همچون میکروسکپی الکترونی یا میکروسکپی تونل‌زنی روبشی، برای نانومهندسی کافی نیستند، زیرا قادر نیستند مختصات ریاضی دقیقی که متخصصان فناوری نانو از هر اتم نیاز دارند را فراهم کنند.

متن این مقاله به صورت pdf قابل دریافت می باشد()